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       News:  最新动态测试技术成功问世:非接触式光学大应变/大变形;动态变形及应变、断裂参数测试技术、Non-contact Optical Big-deformation/strain;dynamics; deformation strain,and fracture parameters measurement; Technoledge Application

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《无损检测资讯网》

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Aerospace Testing, Design and Manufacturing 2008

 

 

    北京安和灵捷科技公司是当今世界领先的非接触式光测仪器的供应商。近十年来,公司一直致力于跟踪世界上最前端的光测技术的发展与应用,与世界上多家先进的光测技术的研发、设计、制造商保持着非常稳定良好的合作关系,为国内关键领域的用户引进了先进的非接触式光测系统,提供了复杂问题的解决之道,树立了良好的信誉。
    公司的经营理念是:跟踪世界尖端光测技术的动态与发展,为国内用户提供当今最前沿的光测技术,真诚为各领域的用户服务。公司可以根据不同用户的需求,在非接触式光学测试领域提供从一维、二维的位移测量,到三维全场位移、变形与应变测量及全场振动测量的系统;提供从静态微应变测试到大变形、大应变全场测试、动态变形与动态应变测试系统;光学的复合材料无损检测系统,尤是当今最先进的NDT全场测试手段;还可提供最新的光学三维数字化测量系统 ,该系统可用于质量控制与逆向工程设计,测量物体的形貌尺寸,建立物体的三维数字化模型,可连接其他CAD、FEA软件,用于零部件的质量控制、计算机辅助检测、CAD建模和逆向工程设计等领域。 公司还致力于推广可靠性测试概念、测试技术及电子元器件等。

                u 光学非接触式三维全场静态变形场、应变场、位移场测试系统(电子散斑原理—ESPI技术)

                u 光学非接触式三维全场大变形、大应变、 大位移场测试系(数字相关原理—Correlation技术)

                u 三维非接触式三维全场谐和振动、动态冲击、动态事件测试系统
                   (电子散斑原理—ESPI、脉冲ESPI、高速数字相关技术—High speed Correlation技术)

                u 光学非接触式全场无损检测系统(剪切散斑/错位散斑—NDT Shearography技术)

                u 三维光学数字化测试系统(3D-Digitizer)

                u 其他光学检测手段,用于检测一维、二维、三维位移变形等

                u 微观力学性能测试系统

                u 其它用于动态检测的系统

                u 特殊的光学检测技术(敬请咨询我们)

                u 全球用户Logos

 

 

 

李薇制作:)

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北京安和灵捷科技有限责任公司

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