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2008年9月17至19日
2008年7月24日
2008年3月14日
2007年6月29日
我公司参展2008 汽车测试及质量监控博览会
2008年9月17日至19日，德国Dantec
Dynamics GmbH公司及其中国区总代理北京安和灵捷科技公司，参加了上海光大会展中心举行的2008
汽车测试及质量监控博览会（中国）（Automotive Testing Expo China 2008）。
会上，德国技术专家Dr.Jörg介绍了光学测量技术的最新应用案例，并现场展示了我公司Q100型快捷应变场测量系统（ESPI原理）和Q400型大变形和大应变测量系统（DIC原理）。众多参观代表表示出对光学测量技术的兴趣，光临我们的展台，与我们讨论该技术在工程实验中的应用。
Q100型快捷应变场测量系统采用ESPI技术（Electronic
Speckle Pattern Interferometry电子散斑图干涉)测量构件的变形和应变，
也可根据材料的特性参数计算测量场的应力分布。
它是便携式的测量系统，操作简单，能够广泛应用于实验室或现场。
Q400型大变形和大应变测量系统采用DIC技术(Digital
Image Correlation数字图像相关)，用两只CCD离分辨率相机记录构件表面变形前后的图像，测量构件的形状、变形应变场数据。该系统灵活
便携的设计开创了广泛的应用领域，适用于航天航空、汽车、机械制造等多种工业领域。选配高速相机也可用来测量高速运动构件及动态变形。
图1.
我们的展台
图2.
德国专家Dr.Jörg
图3.
德国技术专家Dr.Jörg正在为参观代表介绍光学技术的最新应用
图4.
我公司王总正在为参会代表讲解系统应用案例
图5.
参会代表对正在演示的Q400测试系统非常感兴趣
图6.
参观代表正针对实际应用中的技术问题与我们进行讨论
图7. 参观代表正针对实际应用中的技术问题与我们进行讨论
Shearography（剪切散斑）技术在无损检测（NDT)领域的应用
2008年7月24日，德国Dantec
Dynamics GmbH公司与其中国联络处北京安和灵捷科技公司，在中国航空综合技术研究所的大力协助下，成功地举办了先进的光学非接触式复合材料无损检测Shearography（剪切散斑）技术交流会。会上共有来自航空、航天等重点国防领域的多个单位近30名代表出席。
交流会上，德国技术专家Dr.Jörg介绍了Shearography（剪切散斑）技术的原理及该技术在无损检测领域的工程应用，列举了世界上众多著名公司应用该技术的案例及其技术改进方案，并现场对各种不同的复合材料，如碳纤维、蜂窝结构的材料进行了不同加载方式的实际检测，现场快速、直观的检测结果给参会的专业技术人员留下深刻的印象，他们针对自己在实际检测中面临的问题与德国专家和安和科技公司的技术人员进行了讨论。
Shearography（剪切散斑）Q800系统是一种便携式、结构紧凑的无损检测系统，可用于对各种复合材料的缺陷进行非接触式、全场的、非破坏性检测。该系统最适合检测的复合材料类型有：碳纤维、纤维增强塑料、蜂窝材料、多层粘结结构材料和泡沫材料等；可以检测的缺陷类型有：各种分层、脱粘、裂纹、空隙、冲击损伤、损伤的修补部位以及其它形式的缺陷等。该系统的检测特点是：检测速度快、单次检测面积大（可达m2）、检测时间短、不易漏检、可实时显示检测结果、可以显示缺陷大小、只需要少量的准备工作。
该项先进的无损检测技术已被著名的波音、Airbus、PW等企业作为生产过程或维修过程中的一种常规检测技术规范。除了在航空、航天、汽车领域的广泛应用外，随着近年来绿色能源的快速发展，如在风力发电技术领先的欧洲与北欧地区，更多的制造厂商要求在生产过程中对结构复杂的风力发电机叶片进行缺陷检测和质量控制。Shearography（剪切散斑）技术作为一种专业的、可靠的新型技术已被广泛应用于风力发电领域。
图1.
技术交流会正式开始，王总对参会代表的到来表示欢迎
图2.
Dr.Jörg和王总正在向参会代表进行产品介绍
图3. Dr.Jörg正在进行系统演示，参会代表们兴趣浓厚，纷纷走上讲台观摩
图4. 使用Shearography（剪切散斑）技术检测的测试结果
本次研讨会详细内容
2008年3月14日，由北京安和灵捷科技公司和德国著名的Dantec
Dynamics GmbH公司联合主办，由北京某研究所协办的先进的光学非接触式全场静态/动态变形、应变、振动测试技术研讨会在北京成功举办。参加演示会的代表来自航空、航天、兵器工业的研究所、院校等单位，到会的用户代表约有60余人。
在此次演示会上，我们向与会代表们展示了我公司Q100型快捷应变场测量系统、Q400型大变形和大应变测量系统及Q450型动态变形场、动态应变、断裂力学性能测试系统。
主讲人德国Dantec Dynamics公司的资深光学测试专家Thorsten
Siebert博士对先进的光学非接触式全场静态/动态变形、应变、振动测试技术的原理及其相关应用作了生动、详细的讲解，并现场演示了应用Correlation原理的Q400系统及最新的Q450系统。
与会代表们认真观看系统的操作过程，并对系统的测试结果表示满意，并对有关光学测试技术及实际工程中的棘手问题进行了热烈讨论，Thorsten
Siebert博士相关问题进行一一解答。代表们一致认为本次研讨会很成功，并希望以后公司经常举办类似的会议。
图1.
王总对各位与会代表的到来表示欢迎
图2.
Thorsten博士正在讲解先进的光学非接触式大应变、大变形测试技术
图3. 参加会议的用户认真听取Thorsten博士对系统及原理的讲解
图4.
Thorsten博士正在演示静态大变形、大应变测试系统Q400
图5. 数字相关技术的测试结果
图6. 用户针对实际应用中的技术问题进行讨论
本次研讨会详细内容
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