最新动态

                u 光学非接触式三维全场静态变形场、应变场测量系统（电子散斑图干涉技术—ESPI）
                  Ø   Q100型      快捷应变场测量系统
                  Ø   Q300HR型    大面积应变场测量系统

                u 光学非接触式三维全场大变形、大应变场测量系统（数字图像相关技术—DIC）
                  Ø   Q400型      大变形和大应变测量系统

                u 三维非接触式三维全场振动、冲击、测量系统
                  Ø   Q450型      动态变形场、应变场测量系统
                  Ø   Q500型      谐和激励振型测量系统

                u 光学非接触式全场无损检测系统（激光错位散斑干涉技术—Shearography）
                  Ø   Q800HR型    复合材料无损检测系统
                  Ø   Q810型      便携式无损检测系统
                  Ø   Q8XX型      可以根据用户的特殊需要而定制的系统，如剪切探头可以安装在导轨上、机器手上等
                                       不同位置以实现不同的测量需求。详细资料请咨询我们。

                u 三维光学数字化测量系统（3D-Digitizer）
                   Ø   Kolibri II型   通用构件数字化测量系统
                  Ø   Kolibri 1500型 大型构件数字化测量系统
                  Ø   Kolibri duo型  双向构件数字化测量系统
                  Ø   Kolibri flex型 移动式构件数字化测量系统
                

                u 其他光学检测手段，用于检测一维、二维、三维位移变形等
　

                u 微观力学性能测量系统
                   Ø   Q300TCT型 电子元器件热应变测量系统
                   Ø   Q400TCT型 电子元器件热应变测量系统
                   Ø   WLI型     表面微观质量检测仪

                u 电子元器件的调配与供应（敬请咨询我们）
                   Ø   用于宇航级或各种级别高端元器件的测试服务推广
       

                u 其它用于动态检测的系统
                   Ø   非接触光纤位移传感器
                   Ø   非接触激光位移传感器
                           1. 位移传感器
                           2. 车辆试验检测传感器
                           3. 薄膜压力传感器
                           4. 多种应变片（高温应变片、传感器用应变片等）

                u 特殊的光学检测技术（敬请咨询我们）

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