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光学非接触式三维全场静态变形场、应变场测量系统(电子散斑图干涉技术—ESPI)
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Q100型
快捷应变场测量系统
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Q300HR型
大面积应变场测量系统
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光学非接触式三维全场大变形、大应变场测量系统(数字图像相关技术—DIC)
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Q400型 大变形和大应变测量系统
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三维非接触式三维全场振动、冲击、测量系统
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Q450型 动态变形场、应变场测量系统
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Q500型 谐和激励振型测量系统
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光学非接触式全场无损检测系统(激光错位散斑干涉技术—Shearography)
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Q800HR型
复合材料无损检测系统
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Q810型 便携式无损检测系统
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Q8XX型
可以根据用户的特殊需要而定制的系统,如剪切探头可以安装在导轨上、机器手上等
不同位置以实现不同的测量需求。详细资料请咨询我们。
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三维光学数字化测量系统(3D-Digitizer)
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Kolibri II型
通用构件数字化测量系统
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Kolibri 1500型
大型构件数字化测量系统
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Kolibri duo型
双向构件数字化测量系统
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Kolibri flex型
移动式构件数字化测量系统
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其他光学检测手段,用于检测一维、二维、三维位移变形等
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微观力学性能测量系统
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Q300TCT型 电子元器件热应变测量系统
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Q400TCT型 电子元器件热应变测量系统
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WLI型
表面微观质量检测仪
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电子元器件的调配与供应(敬请咨询我们)
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用于宇航级或各种级别高端元器件的测试服务推广
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其它用于动态检测的系统
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非接触光纤位移传感器
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非接触激光位移传感器
1. 位移传感器
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车辆试验检测传感器
3. 薄膜压力传感器
4. 多种应变片(高温应变片、传感器用应变片等)
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特殊的光学检测技术(敬请咨询我们)
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