Optical Full-Field Displacement
and Strain Analysis(Q-450)
光学动态应变测量系统Q-450
Q450高速数字三维相关测量系统
数字三维相关测量系统Q450用于对零件和材料进行全场位移和应变的动态测量。
数字图像相关技术
采用DIC技术(Digital Image Correlation数字图像相关技术)，Q450系统可用于进行全场振动测量、动态应变测量、高速变形测量、断裂力学、冲击激励及动态材料试验中测量材料特性参数等。
系统采用简易的校准方法对测量装置进行快速校准。
动态测量范围
本系统提供全场测量的高空间分辨率及时间分辨率。动态范围从静至20kHz。位移量程从μm至几公分，分辨率可达视场的10-5（例如对A4幅面的视场，分辨率为几微米），应变场从100με 至几个100％应变。
应用范围广
该系统的灵活的设计使应用范围非常广泛，包括从微电子或生物力学的显微研究至航天、航空、汽车、舰船及铁路工业领域的大尺寸零部件测量。
可测量冲击、振动、爆炸条件下的三维变形、应变及动态事件。采样帧频可以根据不同速度的相机来选择。以下仅列出两个型号相机的选项，更多相机技术指标，请联系我公司。
薄膜的全场振动及中心点
冲击激励的全场位移。图示为离面变形。
的位移时间曲线
| 测量面积 |
典型面积：20×15至400×300（mm2）
按用户要求可测数mm2至m2，取决于所用的配置 |
| 测量结果 |
表面形状、每个表面点的三维位移和应变 |
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测量范围 |
可达数倍100%应变 |
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控制和计算电子单元 |
便携式电子单元，20吋液晶显示器，Windows
XP专业版操作系统，内装模拟数据采集板，可记录8个模拟信号，16位分辨率。±0.05～±10V同步控制相机触发 |
| 照明 |
冷光源照明系统HILIS，对试件照明均匀，提高测量精度 |
| 型号 |
Nanosense Mk III |
Nanosense Mk II |
| 传感器芯片 |
CMOS,1280×1024像素,10 bit |
CMOS,512×512像素,10 bit |
测量灵敏度 位移
应变 |
根据测量条件，可达视场的1/100000，例如视场为100mm时灵敏度为1μm
可达0.01％ |
根据测量条件，可达视场的1/50000，例如视场为100mm时灵敏度为2μm
可达0.01％ |
| 分辨率和帧频 |
分辨率(像素) 帧频(幅/秒)
1280×1024 1040
1280×640 1660
1280×320 3330
1280×80
13100
1280×16
62300 |
分辨率(像素) 帧频(幅/秒)
512×512 5130
512×256 10100
512×128 20100
512×64
39500
512×16
132000 |
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数据记录 |
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存储量：1GB（可选4GB）
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存储量4GB，帧频1040时可
记录2秒钟 |
存储量4GB，帧频5130时可
记录4秒钟 |
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单独修改分辨率和帧频可延长记录时间
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| 快门时间 |
1μs～100ms |
1μs～30ms |
| 其它 |
USB 2.0 即插即用口，用户可选用LabView,及本公司的ISTRA 和FlowManager 等软件 |
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